TESCAN SOLARIS X 是一款集成了TriglavTM高分辨率电子镜筒和iFIB+TM氙等离子高分辨双束FIB-SEM系统，专为大体积三维样品的高精度分析和制备设计。其具备高分辨率成像、快速样品制备能力及广泛的应用范围，涵盖材料科学、生命科学和半导体分析等领域。关键特性包括高效的离子束流、优化的探测器系统、数据分析功能和用户友好的软件平台。

TESCAN 镓离子型双束扫描电镜是一款高分辨双束 FIB-SEM 系统，具备的扩展分析能力和纳米加工功能。其特点包括新一代镜筒内电子加速技术、静电-电磁复合物镜、多探测器配置、大型样品室和多种扩展附件接口。该系统提供高分辨成像、低电压电子成像、高速切割和优化的离子束处理能力，并配备操作软件，简化用户界面，提高操作效率。它在高分辨成像、原位应用和分析扩展能力方面处于行业内高水平。

TESCAN 超高分辨场发射扫描电镜 是一款高性能扫描电子显微镜，具备广泛的适用性和高分辨率成像能力。它采用TESCAN BrightBeam™型SEM镜筒，配备静电-电磁复合物镜，可在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，特别适合磁性样品的分析。其多功能探测器系统和模块化软件设计使得用户能够灵活地进行各种材料的表征和分析，适用于纳米材料研究、制造业质量控制及各类研发工作。

TESCAN 钨灯丝扫描电镜——第四代钨灯丝扫描电子显微镜集成了全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，结合扫描形貌图像与元素实时分析，简化样品表面形貌采集及数据分析工作，提升检测效率。该设备具有创新电子光学设计、无机械光阑、大视野光路、3D 防碰撞模块及多种选配探测器和附件，支持自动化操作与远程诊断，适用于质量控制、故障分析和研究实验室中的常规材料检测。

TESCAN 集成矿物分析仪系统 TIMA，是基于扫描电镜与多能谱探测器搭建的全自动矿物分析系统，可无人值守完成样品自动扫描、矿物识别与定量统计，输出矿物组成、粒度分布、嵌布共生关系、解离度、元素赋存状态等量化数据，适配岩石、矿石、精矿、尾矿、炉渣、锂矿、电池黑料等多种样品，广泛用于地质科研、矿山工艺矿物学、新能源及固废资源化领域，配套离线数据分析软件，为选矿优化、资源评价提供可靠微观矿物学依据。

TESCAN micro-CT X射线显微CT系统—材料分析 是泰思肯的 X 射线显微 CT 设备，无需切割制样即可实现样品内部无损三维成像与定量分析，支持多尺度扫描、动态 4D 原位观测及能谱 CT 物相识别，覆盖从微小试样到大尺寸岩心样品检测，广泛应用于地质矿产、新材料、增材制造、电池、失效分析等领域。